РусскийEnglish
Отдел 130

Избранные публикации

  1. T.J.-L. Courvoisier, A. Orr, P. Buhler, A. Zehnder, R. Henneck, F. Stanffacher, I. Biakhowsi, N. Schlumpf, W. Schoeps, A. Mchedlishvili, R. Sunyaev, V. Arefev, A. Yascovich, G. Balalyan, M. Pavlinsky, I. P. Delaboudiniere, T. Caronne, O. Siegmund, I. Warren, D. Leany, N. Salashchenko. Yu. Platonov. EUVIIA- An extreme UV Imaging telescope array with spectral capability. Adv. Space Res. Vol. 13. №12, pp. 299-302,1993.
  2. T.J.-L. Courvoisier, A. Orr, P. Buhler, A. Zehnder, R. Henneck, F. Stanffacher, I. Biakhowsi, N. Schlumpf, W. Schoeps, A. Mchedlishvili, R. Sunyaev, V. Arefev, A. Yascovich, G. Balalyan, M. Pavlinsky, I. P. Delaboudiniere, T. Caronne, O. Siegmund, N. Salashchenko. Yu. Platonov. EUVIIA- An extreme UV Imaging telescope array with spectral capability. Experimented astronnomy, 4, 117-135, 1993.
  3. V.A. Slemzin, I. A. Zhitnik, E. N. Ragozin, A. A. Andreev, N. N. Salashchenko, Yu. Ya. Platonov. Aspherical imaging multilayer mirrors with sub-areseconnd resolution for solar XUV-telescope. SPIE Proc., v. 2279, 1994, p. 234.
  4. E.N. Ragosin, N. N. Kolachevsky, M. M. Mitropolsky, V. A. Slemsin N. N. Salashchenko. Problems of soft x-ray mirrors employed in spectroscopic devices for astrophysical and laboratory plasma investigation. Turkish J. of Physics, v. 19, № 11, 1995, 1368-1372.
  5. И.И. Собельман, Э. А. Аветисян, И. А. Житник, А. П. Игнатьев, В. В. Корнеев, В. В. Крутов, Н. Н. Салащенко, С. В. Кузин, В. М. Ломкова, А. В. Митрофанов, С. П. Опарин, А. А. Перцов, В. А. Слемзин, В. Ф. Суханов, И. П. Тиндо, Ю. В. Фотин. Рентгеновская спектроскопия солнца в диапазоне 0.84-30.4 нм в экспериментах ТЕРЕК-К и РЕС-К на спутнике КОРОНАС-И. Письма в астрономический журнал, 1996, т.22, в. 8, с. 604-619.
  6. I. Zhitnik, A. Ignatiev, V. Korneev, V. Krutov, S. Kuzin, A. Mitrofanov, S. Oparin, M. Pachomov, A. Pertsov, N. Salashchenko, V. Slemzin, O. Timofeev, I. Tindo, and Roger J. Thomas. Instruments for XUV-imaging spectroscopy of the Sun on board the CORONAS-I satellite. SPIE Proc. 3406, 1-19 (1998).
  7. A. Ignatiev, N. Kolachevsky, V. Korneev, V. Krutov, S. Kuzin, A. Mitrofanov, A. Pertsov, E. Ragozin, V. Slemzin, I. Tindo, I. Zhitnik, N. Salashchenko, and Roger J. Thomas. Manufacture and testing of the X-ray optical elements for the TEREK-C and RES-C instruments (the «CORONAS-I» mission. SPIE Proc. 3406, 20-34 (1998).
  8. С.С. Андреев, С. Ю. Зуев, В. И. Позднякова, Н. Н. Салащенко, В. А. Слемзин, И. Л. Струля, И. А. Шерешевский, И. А. Житник. Изготовление асферической рентгеновской оптики с многослойным покрытием для исследований Солнца по проекту «Коронас-Ф». Поверхность. Рентгеновские, синхротронные и нейтронные исследования. 2003, № 1, с. 6-11.
  9. С.С. Андреев, С. Ю. Зуев, А. Л. Мизинов, В. Н. Полковников, Н. Н. Салащенко. Многослойные дисперсионные элементы на основе Mg, предназначенные для работы на l =30.4 нм. Поверхность. Рентгеновские, синхротронные и нейтронные исследования. 2005, N8, 9-12.
  10. А. И. Чумаков, Г. В. Смирнов, С. С. Андреев, Н. Н. Салащенко, С. И. Шинкарев. Чисто-ядерная дифракция g-излучения в резонансном многослойном зеркале. Письма в ЖЭТФ, 55, (1992), с. 495-499.
  11. A.L. Chumakov, G. V. Smirnov, J. Arthur, S. L. Rude, D. E. Brown, A. Q. R. Raron, G. S. Rroun, N. N. Salashchenko. Resonant Diffraction of Synchrotron Radiation by a Niclcar multilayer. Phys. Rev. Lett., v. 71, №15, 1993, p.2489-2492.
  12. N.N. Salashchenko, Yu. Ya. Platonov, S. Yu. Zuev. Multilayer x-ray optics for synchrotron radiation. NIM, 1995, A359, p.114-120.
  13. Н.Н.Салащенко, Ю. Я. Платонов, С. Ю. Зуев, Многослойная оптика мягкого рентгеновского диапазона. Поверхность, 1995, №10, c. 5-20.
  14. N.I. Chkhalo, A. V. Evstigneev, M. A. Kholopov, V. V. Lyakh, A. D. Nikolenko, V. F. Pindyurin, A. N. Subbotin. The station for detector calibration in the soft X-ray range at the VEPP-2M storage ring. Nuclear Instruments and Methods in Physics Research A, №359, (1995), р. 440-444.
  15. N.I. Chkhalo, M. V. Fedorchenko, N. V. Kovalenko, E. P. Kruglyakov, A. I. Volokhov, V. A. Chernov, S. V. Mytnichenko. Status of X-ray mirror optics at the Siberian SR Centre. Nuclear Instruments and Methods in Physics Research A, №359, (1995), р. 121-126.
  16. N.I. Chkhalo, M. V. Fedorchenko, A. V. Zarodyshev, V. A. Chernov, V. I. Kirillov, A. A. Nikiforov. Al/Al2O3: new type of mirrors for intense synchrotron radiation beams. Nuclear Instruments and Methods in Physics Research A, №359, (1995), р. 127-130.
  17. V.A. Chernov, N. I. Chkhalo, N. V. Kovalenko, S. V. Mytnichenko. Fabrication and performance characteristics of a Ni/C multilayer grating for hard X-rays. Nuclear Instruments and Methods in Physics Research A, №359, (1995), р. 138-140.
  18. V.B. Baryshev, N. I. Chkhalo, V. I. Kondratyev, G. N. Kulipanov. Trace element identification in lunar rocks of various titanium content by SR-XFA data. Nuclear Instruments and Methods in Physics Research A, №359, (1995), р. 310-311.
  19. F. Schafers, H.-Ch. Mertins, I. Packe, F. Schmolla, H. Grimmer, P. Boni, D. Clemens, M. Horisberger, N. N. Salashchenko, E. A. Shamov. Experimental Multilayer Survey in the VUV. //Proc. SPIE, 3152, 222-230, (1997). Materials, Manufacturing, and Measurement for Synchrotron Radiation Mirrors, Peter Z. Takacs; Thomas W. Tonnessen; Eds.
  20. М.А. Андреева, С. М. Иркаев, Н. И. Полушкин, Н. Н. Салащенко, В. Г. Семенов, Д. О. Неплохов. Исследование ультратонких пленок Sc/57Fe/Sc и 57Fe/Sc/57Fe методом скользящей мессбауэровской спектроскопии. ПОВЕРХНОСТЬ.1997, N 12, c. 62-71.
  21. V.A. Chernov, V. I. Erofeev, N. I. Chkhalo, N. V. Kovalenko, S. V. Mytnichenko. X-ray performance of multilayer gratings: recent advantages at SSRC. Nuclear Instruments and Methods in Physics Research A, №405, (1998), р. 310-318.
  22. N.I. Polushkin, K. A. Prokhorov, N. N. Salashchenko, V. G. Semenov. Amorphus magnetic films for broadband g-filters of synchrotron radiation. NIM 405, 297-300 (1998).
  23. M.A. Andreeva, S. M. Irkaev, V. G. Semenov, K. A. Prokhorov, N. N. Salashchenko, A. I. Chumakov, R. Ruffer. Mossbauer reflectometry of ultrathin film Zr (10 nm) / [57Fe/Cr (3.3 nm)´26] / Cr (50 nm) using synchrotron radiation. J. of Alloys and Compaunds 286 (1999) 322-332.
  24. М.А. Андреева, С. М. Иркаев, К. А. Прохоров, Н. Н. Салащенко, В. Г. Семенов, А. И. Чумаков, Р. Рюффер. Ядерная оптика скользящего падения для синхротронного излучения. Поверхность. Рентгеновские, синхротронные и нейтронные исследования. N 1, 1999, с. 61-74.
  25. Н.В. Коваленко, Н. И. Чхало, В. И. Ерофеев, В. А. Чернов, С. В. Мытниченко. Оптика многослойных рентгеновских решеток применительно к синхротронному излучению. Поверхность, №1, (1999), с. 124-129.
  26. M.A. Andreeva, S. M. Irkaev, V. G. Semenov, K. A. Prokhorov, N. N. Salashchenko, A. I. Chumakov, R. Ruffer. Mossbauer reflectometry of multiplayer structure Zr (10 nm) / [57Fe/Cr (3.3 nm)´26] / Cr (50 nm) comparative measurements in energy and time domains. Hyperfine Interactions 126 (2000) 343-348.
  27. M.A. Andreeva, V. G. Semenov, L. Häggeström, B. Lindgren, B. Kalska, A. I. Chumakov, O. Leupold, R. Rüffer, K. A. Prokhorov, N. N. Salashchenko. Interface selective investigation of 57Fe/Cr multilayer by nuclear-resonanse Bragg reflectivity on time scale. The Physics of Metals and Metallography, Vol. 91, № 1, p. 522-527.
  28. S.S. Andreev, H.-Ch.Mertins, Yu. Ya. Platonov, N. N. Salashchenko, F. Schaefers, E. A. Shamov, L. A. Shmaenok. Multilayer dispersion optics for x-ray radiation. Nucl. Instrum. and Meth. 2000, A448, 133-141.
  29. С.С. Андреев, М. С. Бибишкин, Х. Кимура, Е.Б. Клюенков, А. Я. Лопатин, В. И. Лучин, К. А. Прохоров, Н. Н. Салащенко, Т. Хироно, Н. Н. Цыбин, Н. И. Чхало. Поляризаторы и фазовращатели на основе многослойных зеркал и свободно висящих пленок для диапазона длин волн излучения 2.1 — 4.5 нм. Изв. Академии наук. Серия физическая. 2004. т. 68, №4, с. 565-568.
  30. С.С. Андреев, М. С. Бибишкин, H. Kimura, Е.Б. Клюенков, А. Я. Лопатин, В. И. Лучин, К. А. Прохоров, Н. Н. Салащенко, T. Hirono, Н. Н. Цыбин, Н. И. Чхало. Фазовращатели на основе свободновисящих многослойных структур Cr/Sc Известия Академии наук. Серия физическая. 2005. Т. 69. № 2, 207-210.
  31. S.S. Andreev, M. S. Bibishkin, N. I. Chkhalo, T. Hirono, H. Kimura, E. B. Kluenkov, A. Ya. Lopatin, V. I. Luchin, K. A. Prokhorov, N. N. Salashchenko, N. N. Tsybin. Transmission type phase retarders based on free standing Cr/Sc multilayers. Nuclear Instruments and Methods in Physics Research. A. 2005. V. 543, 340-345.
  32. H. Kimura, T. Hirono, Y. Tamenori, Y. Saitoh, N. N. Salashchenko, and T. Ishikawa. Transmission type Sc/Cr multilayers as a quarter-wave plate for 398.6eV. J. Electr. Spectr. 144-147 (2005) 1079.
  33. M.A. Andreeva, N. G. Monina, L. Hagstrom, B. Lindgren, B. Kalska, S. Kamali-M, S. N. Vdovichev, N. N. Salashchenko, V. G. Semenov, O. Leupold, R. Ruffer. Nuclear resonant reflectivity with standing waves for the investigation of a thin 57Fe layer buried inside a superconducting Si/[Mo/Si]45/57Fe/Nb multilayer. Nuclear Instruments and Methods in Physics Research B 266 (2008) 187-196.
  34. E. Louis, H.-J. Voorma, N. B. Koster, F. Bijkerk, Yu. Ya. Platonov, S. Yu. Zuev, S. S. Andreev, E. A. Shamov, N. N. Salashchenko. Multilayer coated reflective optics for Extreme UV lithography. Microelectronic Engineering 27 (1995) 235-238.
  35. N.I. Chkhalo, M. V. Fedorchenko, E. P. Kruglyakov, A. I. Volokhov, K. S. Baraboshkin, V. F. Komarov, S. I. Kostyakov, E. A. Petrov. Ultradispersed diamond powders of detonation nature for polishing X-ray mirrors. Nuclear Instruments and Methods in Physics Research A, №359, (1995), р. 155-156.
  36. F. Bijkerk, L. A. Shmaenok, E. Louis, H. J. Voorma, N. B. Koster, C. Bruineman, R. K. F. J. Bastiaensen, E. W. J. M. van der Drift, J. Romijn, L. E. M. de Groot, B. A. C. Rousseeuw, T. Zijlstra, Yu. Ya. Platonov, and N. N. Salashchenko. Extreme UV lithography, a new laser plasma target concept and fabrication of multilayer reflection masks. Microelectron. Engineering, 30 (1996) 183-186.
  37. N.N. Salashchenko, S. S. Andreev, Yu. Ya. Platonov, E. A. Shamov, S. Yu. Zuev, A. I. Chumakov. Multilayer optics for X-ray and EUV radiation. Поверхность. Рентгеновские, синхротронные и нейтронные исследования. 1996, N3-4, с. 21-42.
  38. С.А. Булгакова, А. Я. Лопатин, В. И. Лучин, Л. М. Мазанова, Н. Н. Салащенко. Рентгенорезисты на основе полиметилметакрилата для спектрального диапазона 13 нм. Поверхность. Рентгеновские, синхротронные и нейтронные исследования. N1, 1999, с. 133-139.
  39. A. I. Volokhov, E. P. Kruhgliakov, N. I. Chkhalo. Substrates for Multilayer X-Ray Mirrors. Surface Investigation, №15, (1999), р. 181-184.
  40. А.И. Волохов, Э. П. Кругляков, Н. И. Чхало. Подложки для многослойных рентгеновских зеркал. Поверхность, №1, (1999), с. 130-132.
  41. S.A. Bulgakova, A. Ya. Lopatin, V. I. Luchin, L. M. Mazanova, S. A. Molodnjakov, N.N. Salashchenko. PMMA-based resists for a spectral range near 13 nm. Nucl. Instrum. and Meth. 2000, A448, 487-492.
  42. Н.Н.Салащенко, С. С. Андреев, С. А. Булгакова, С. В. Гапонов, С. А. Гусев, С. Ю. Зуев, Е. Б. Клюенков, В. И. Лучин, А. Я. Лопатин, Л. М. Мазанова, К. А. Прохоров, Е. Н. Садова, Е. А. Шамов. Исследования в области проекционной литографии экстремального ультрафиолетового диапазона (l«13 нм). Поверхность. Рентгеновские, синхротронные и нейтронные исследования. 2000, N 1, 32-41.
  43. S.S. Andreev, N. N. Salashchenko, L. A. Suslov, A. N. Yablonsky and S. Yu. Zuev. Stress reduction of Mo/Si multilayer structures. NIMA 2001, V. 470, Nos. 1+2, p. 162-167.
  44. Н.В. Востоков, М. Н. Дроздов, Д. В. Мастеров, Н. Н. Салащенко, К. А. Прохоров. Послойный элементный анализ многослойных структур Mo/Si методом оже-электронной спектроскопии. Поверхность. Рентгеновские, синхротронные и нейтронные исследования, 2001, № 1, с. 43-47.
  45. С.С. Андреев, С. В. Гапонов, С. А. Гусев, С. Ю. Зуев, Е. Б. Клюенков, К. А. Прохоров, Н. И. Полушкин, Е. Н. Садова, Н. Н. Салащенко, Л. А. Суслов, M. N. Haidl. Оптимизация технологии изготовления многослойных Mo/Si зеркал. Поверхность №1, с. 66-73, 2001.
  46. N.N. Salashcenko. Patent DE 101 01 820 A1. 00074P - «Optical Element and Method for Recovering the Substrate» (17.01.2001).
  47. С.Ю. Зуев, Е. Б. Клюенков, К. А. Прохоров, Н. Н. Салащенко. Многослойные дисперсионные элементы на основе B4C для спектральной области l=6.7-8 нм. Поверхность. Рентгеновские, синхротронные и нейтронные исследования. 2002, N1, 27-31.
  48. С.А. Булгакова, Н. В. Востоков, А. Ю. Климов, А. Я. Лопатин, В. И. Лучин, Л. М. Мазанова, А. С. Малыгин, В. В. Рогов, Н. Н. Салащенко. Стенд для диагностики рентгенорезистов на основе лазерно-плазменного источника с водоструйной мишенью. Поверхность. Рентгеновские, синхротронные и нейтронные исследования. 2002, N1, 97-99.
  49. S.S. Andreev, S. V. Gaponov, S. A. Gusev, E. B. Kluenkov, N. I. Polushkin, K. A. Prokhorov, N. N. Salashchenko, M. H. Haidl. Mo/Si Multilayers for 13 nm Spectral Region. Thin Solid Films. 2002, 415/1-2, 123-132.
  50. S.S. Andreev, A. D. Akhsakhalyan, M. A. Bibishkin, N. I. Chkhalo, S. V Gaponov, S. A. Gusev, E. B. Kluenkov, K. A. Prokhorov, N. N. Salashchenko, F. Schäfers, S. Yu. Zuev. Multilayer optics for XUV spectral region: technology fabrication and applications. Centr. Europ. Journ. of Phys. 2003. №1, p.191-209.
  51. С.С. Андреев, С. Ю. Зуев, Е. Б. Клюенков, А. Я. Лопатин, В. И. Лучин, К. А. Прохоров, Н. Н. Салащенко, Л. А. Суслов. Фильтры для экстремального ультрафиолетового диапазона на основе многослойных структур Zr/Si, Nb/Si, Mo/Si и Mo/C. Поверхность. Рентгеновские, синхротронные и нейтронные исследования. 2003. №2. С.6-9.
  52. М.С. Бибишкин, И. Г. Забродин, И. А. Каськов, Е. Б. Клюенков, А. Е. Пестов, Н. Н. Салащенко, Д. П. Чехонадских, Н. И. Чхало, Л. А. Шмаенок. Двухзеркальный рефлектометр для относительных измерений коэффициентов отражения многослойных зеркал на длине волны 13.5 нм. Изв. Академии наук. Серия физическая. 2004. т. 68, №4, с. 560-564.
  53. M.S. Bibishkin, D. P. Chekhonadskih, N. I. Chkhalo, E. B. Klyuenkov, A. E. Pestov, N. N. Salashchenko, L. A. Shmaenok, I. G. Zabrodin, S. Yu. Zuev. Laboratory methods for investigation of multilayer mirrors in Extreme Ultraviolet and Soft X-Ray region. in Micro- and Nanoelectronics 2003, edited by Kamil A. Valiev, Alexander A. Orlikovsky, Proceedings of SPIE Vol. 5401 (SPIE, Bellingham, WA, 2004) P. 8-15.
  54. Vadim Banine, Leonid Sjmaenok, Roel Moors, Nikolay Salashchenko. Patent P-2221.000-US Multilayer filters in EUV lithography for mitigation of source produced debris and DUV radiation. (29-3-2005).
  55. V.E. Banine, J. H. J. Moors, L. A. Sjmaenok, N. N. Salashchenko. Multi-layer spectral purity filter lithography apparatus including such a spectral purity filter and device manufacturing method, and device manufactured thereby. Date of filing 22.03.06. Priority US/29.03.05/USA 91923.
  56. Панкратов Е. Л., Чхало Н. И. Тепловые нагрузки рентгеновских трубок с неподвижным анодом при длительных выдержках. Теплофизика высоких температур 2006. Т.44, №5. С. 570-576.
  57. Pankratov E. L., Chkhalo N. I. Thermal Loads of X-Ray Tubes with a Fixed Anode under Long-Duration Exposure. High Temperature. 2006. Vol. 44. No. 5. p. 770-776.
  58. Забродин И. Г., Закалов Б. А., Зуев С. Ю., Каськов И. А., Клюенков Е. Б., Лопатин А. Я., Салащенко Н. Н., Суслов Л. А., Пестов А. Е., Чхало Н. И. Абсолютно калиброванный измеритель ЭУФ мощности для аттестации источников излучения на 13,5 нм. Поверхность. Рентгеновские, синхротронные и нейтронные исследования. №6. 2007. С. 104-107.
  59. К.Н. Кошелев, В. Е. Банин, Н. Н. Салащенко. Работы по созданию источников коротковолнового излучения для нового поколения литографии. УФН, 2007, т. 177, в. 7, с. 777-780.
  60. Климов А. Ю., Клюенков Е. Б., Мизинов А. Л., Полковников В. Н., Салащенко Н. Н., Чхало Н. И., Н. Б. Вознесенский. Экспериментальные исследования возможностей интерферометра с дифракционной волной сравнения для контроля формы оптических элементов. Поверхность. Рентгеновские, синхротронные и нейтронные исследования. №6. 2007. С. 99-103.
  61. А.Ю. Климов, В. В. Рогов, Н. Н. Салащенко, Н. И. Чхало. Источник сферической волны на основе зонда ближнепольного микроскопа. Известия академии наук. Серия физическая. 2008, т. 72, №2, 221-223.
  62. A.Yu. Klimov, V. V. Rogov, N. N. Salashchenko, and N. I. Chkhalo. A Spherical Wave Source Based on a Probe for a Near-Field Microscope. Bulletin of the Russian Academy of Sciences: Physics. Vol. 72. No. 2. 2008. P. 204-206.
  63. Е.Б. Клюенков, В. Н. Полковников, Н. Н. Салащенко, Н. И. Чхало. Коррекция формы оптических поверхностей с субнанометровой точностью. Проблемы, статус, перспективы. Известия академии наук. Серия физическая. 2008, т. 72, №2, 205-208.
  64. E.B. Klyuenkov, V. N. Polkovnikov, N. N. Salashchenko, and N. I. Chkhalo. Shape Correction of Optical Surfaces with Subnanometer Precision: Problems, Status, and Prospects. Bulletin of the Russian Academy of Sciences: Physics. Vol. 72. No. 2. 2008. P. 188-191.
  65. Н.Н. Салащенко, М. Н. Торопов, Н. И. Чхало. Влияние неровностей субмикронных отверстий на дифракцию света. Поверхность. Рентгеновские, синхротронные и нейтронные исследования. №7, 2008, с. 3-5.
  66. N.N. Salashchenko, M. N. Toropov, and N. I. Chkhalo. Effect of pinhole roughness on light diffraction. Journal of Surface Investigations, X-ray, Synchrotron and Neutron Techniques. V. 2, No.4. P. 511-513. 2008.
  67. N.I. Chkhalo, A. Yu. Klimov, V. V. Rogov, N. N. Salashchenko, and M. N. Toropov. A source of a reference spherical wave based on a single mode optical fiber with a narrowed exit aperture. Rev. Sci. Instrum, vol.79, 033107, (2008).
  68. Н.Н. Салащенко, Н. И. Чхало. Коротковолновая проекционная литография. Вестник Российской Академии Наук. Т. 78. №5. 2008. С.13-20.
  69. N. Chkhalo, I. Zabrodin, I. Kas’kov, E. Kluenkov, A. Pestov, and N. Salashchenko. Investigation of fluorescence on wavelength 13.5 nm of x-ray tube for nanolithographer. Proc. SPIE 7025, 702504 (2008).
  70. N. Chkhalo, L. Paramonov, A. Pestov, D. Raskin, and N. Salashchenko. Correction of the EUV mirror substrate shape by ion beam. Proc. SPIE 7025, 702503 (2008).
  71. Nikolay I. Chkhalo, Denis G. Raskin, and Nikolay N. Salashchenko. Capabilities of microinterferometer with digital recording of images for studying micro-objects with sub-nanometer resolution. Proc. SPIE 7025, 702512 (2008).
  72. Nikolay I. Chkhalo, Illarion A. Dorofeev, Nikolay N. Salashchenko, and Mikhail N. Toropov. A plane wave diffraction on a pin-hole in a film with a finite thickness and real electrodynamic properties. Proc. SPIE 7025, 702507 (2008).
  73. Nikolay I. Chkhalo, Alexander Y. Klimov, Denis G. Raskin, Vladimir V. Rogov, Nikolay N. Salashchenko, and Mikhail N. Toropov. A new source of a reference spherical wave for a point diffraction interferometer. Proc. SPIE 7025, 702506 (2008).
  74. Nikolay I. Chkhalo, Evgeniy B. Kluenkov, Aleksey E. Pestov, Denis G. Raskin, Nikolay N. Salashchenko, and Mikhail N. Toropov. Manufacturing and investigation of objective lens for ultrahigh resolution lithography facilities. Proc. SPIE 7025, 702505 (2008).
  75. M.S. Bibishkin, N. I. Chkhalo, S. A. Gusev, E. B. Kluenkov, A. Y. Lopatin, V. I. Luchin, A. E. Pestov, N. N. Salashchenko, L. A. Shmaenok, N. N. Tsybin, and S. Y. Zuev. Multilayer Zr/Si filters for EUV lithography and for radiation source metrology. Proc. SPIE 7025, 702502 (2008).
  76. E.B. Kluyenkov, A. E. Pestov, V. N. Polkovnikov, D. G. Raskin, M. N. Toropov, N. N. Salashchenko, and N. I. Chkhalo. Testing and Correction of Optical Elements with Subnanometer Precision. Nanotechnologies in Russia. Vol. 3. Nos. 9-10. Pp. 602-610. 2008.
  77. Е.Б. Клюенков, А. Е. Пестов, В. Н. Полковников, Д. Г. Раскин, М. Н. Торопов, Н. Н. Салащенко, Н. И. Чхало. Измерение и коррекция формы оптических элементов с субнанометровой точностью. Российские нанотехнологии. Том 3. №9-10. С. 90-98. 2008.
  78. Е.Б. Клюенков, Н. Н. Салащенко, Н. И. Чхало. Работы по созданию и аттестации рентгенооптических элементов и систем сверхвысокого разрешения в ИФМ РАН. Известия РАН. Серия физическая. Том 73. №1. 2009. С. 66-70.
  79. E.B. Kluenkov, N. N. Salashchenko, and N. I. Chkhalo. Activity in Manufacturing and Characterization of X-Ray Optical Elements and Ultrahigh-Resolution Systems in IPM RAS. Bulletin of the Russian Academy of Sciences: Physics. Vol. 73. No. 1. 2009. P. 62-65.
  80. Chkhalo N. I., Salashchenko N. N. Projection XEUV-nanolithography. Nuclear Instruments and Methods in Physics Research. A 603. 2009. P. 147-149.
  81. Dorofeyev I. Diffraction of stochastic electromagnetic fields by a hole in a thin film with real optical properties. Physics Letters A. V. 372. 2008. P. 5508-5514.
  82. Dorofeyev I. Amplitude-phase characteristics of electromagnetic fields diffracted by a hole in a thin film with realistic optical properties. Physica E. V. 41. 2009. P. 762-770.
  83. А.А. Васильев, М. М. Митропольский, Ю. Я. Платонов, Ю. Ю. Покровский, Е. Н., Рогозин, Н. Н. Салащенко, А. П. Шевелько. Создание монохроматических поляризованных пучков мягкого рентгеновского излучения с использованием многослойной рентгеновской оптики. Квантовая электроника, т.22, №4, (1995), с. 408-410.
  84. А.Д. Ахсахалян, Б. А. Володин, Е. Б. Клюенков, В. А. Муравьев, Н. Н. Салащенко, А. И. Харитонов. Изготовление многослойных рентгеновских отражающих элементов цилиндрической формы. Поверхность. Рентгеновские, синхротронные и нейтронные исследования. № 1, 1999, с. 162-165.
  85. А.Д. Ахсахалян, Б. А. Володин, Е. Б. Клюенков, В. А. Муравьев, Н. Н. Салащенко, А. И. Харитонов, Е. А. Шамов. Термопластический метод изготовления цилиндрических рентгеновских отражателей. Поверхность. Рентгеновские, синхротронные и нейтронные исследования. 2000, № 1, 112-114.
  86. A.D. Akhsakhalyan, N. I. Chkhalo, A. I. Kharitonov. Method for manufacturing of double-bent X-ray optics. Nuclear Instruments and Methods in Physics Research A 470, (2001), р. 142-144.
  87. А.В. Бирюков, Д. Г. Волгунов, С. В. Гапонов, Б. А. Грибков, С. Ю. Зуев, В. Л. Миронов, Н. Н. Салащенко, Л. А. Суслов, С. А. Тресков. Исследование возможности получения сверхгладких подложек методом репликации эталонных поверхностей полимерными пленками. Поверхность. Рентгеновские, синхротронные и нейтронные исследования. 2003, № 1, с. 109-112.
  88. А.В. Бирюков, С. В. Гапонов, Б. А. Грибков, М. В. Зорина, В. Л. Миронов, Н. Н. Салащенко. АСМ и РРМ исследования шероховатостей поверхности стеклянных подложек с негауссовым распределением по высотам. Поверхность. Рентгеновские, синхротронные и нейтронные исследования. 2003, № 2, с. 15-18.
  89. А.А. Ахсахалян, А. Д. Ахсахалян, Д. Г. Волгунов, С. В. Гапонов, Н. А. Короткова, Л. А. Мазо, В. Л. Миронов, Н. Н. Салащенко, А. И. Харитонов. Изготовление цилиндрических рентгеновских отражателей на полимерных пленках. Поверхность. Рентгеновские, синхротронные и нейтронные исследования. 2003, № 1, 78-80.
  90. А.А. Ахсахалян, А. Д. Ахсахалян, М. С. Бибишкин, Б. А. Володин, Е. Б. Клюенков, З. Л. Кожевникова, В. А. Муравьев, Н. Н. Салащенко, А. И. Харитонов, Н. И. Чхало. Особенности изготовления короткофокусных рентгеновских цилиндрических отражающих систем. Поверхность. Рентгеновские, синхротронные и нейтронные исследования. 2003, № 1, с. 81-85.
  91. А.Д. Ахсахалян, Е. Б. Клюенков, В. А. Муравьев, Н. Н. Салащенко. Оптимизация рентгеновских зеркал в системах цилиндрических параболоидов. Поверхность. Рентгеновские, синхротронные и нейтронные исследования. 2003, № 1, с. 86-93.
  92. А.А. Ахсахалян, А. Д. Ахсахалян, Б. А. Володин, Е. Б. Клюенков, В. А. Муравьев, Н. Н. Салащенко, А. И. Харитонов. Квадраэллиптический отражатель на многослойных структурах для жесткого рентгеновского диапазона. Изв. Академии наук. Серия физическая. 2004. т. 68, №4, с. 569-572.
  93. А.А. Ахсахалян, А. Д. Ахсахалян, Е. Б. Клюенков, В. А. Муравьев, Н. Н. Салащенко, А. И. Харитонов. Многослойные рентгеновские зеркала для формирования пучков субнанометрового диапазона длин волн. Известия Академии наук. Серия физическая. 2005. Т. 69. № 2, 174-181.
  94. A.A. Akhsakhalyan, A. D. Akhsakhalyan, A. I. Kharitonov, E. B. Kluenkov, V. A. Murav’ev, N. N. Salashchenko. Multilayer mirror systems to form hard X-ray beams. Central European Journal of Physics 3 (2) 2005 163-177.
  95. А.Д. Ахсахалян, Е. Б. Клюенков, В. А. Муравьев, Н. Н. Салащенко. Оптимизация многослойных рентгеновских зеркал в системах эллиптических цилиндров и эллипсоидов вращения. Поверхность. Рентгеновские, синхротронные и нейтронные исследования. 2005, N2, 28-35.
  96. А.Д. Ахсахалян, Е. Б. Клюенков, В. А. Муравьев, Н. Н. Салащенко. Осветители на цилиндрических многослойных рентгеновских зеркалах. Поверхность. Рентгеновские, синхротронные и нейтронные исследования. 2005, N2, 36-44.
  97. Б.А. Володин, Н. Н. Салащенко. В. В. Чернов. Многослойные зеркала на основе NiCu для линий излучения Cu K и Cr K. Поверхность. Рентгеновские, синхротронные и нейтронные исследования, №8, с. 5-8, (2005)
  98. S.S. Andreev, M. S. Bibishkin, N. I. Chkhalo, A. Ya. Lopatin, V. I. Luchin, A. E. Pestov, K. A. Prokhorov, N. N. Salashchenko. Application of free-standing multilayer films as polarizers for X-ray radiation. Nuclear Instruments and Methods in Physics Research A, №543, (2005), р. 340-345.
  99. А.А. Ахсахалян, А. Д. Ахсахалян, Е. Б. Клюенков, В. А. Муравьев, Н. Н. Салащенко, А. И. Харитонов. Многослойное рентгеновское зеркало в форме эллипсоида вращения. Известия Академии наук. Серия физическая. 2007. Т. 71. №1. С. 69-72.
  100. А.А. Ахсахалян, А. Д. Ахсахалян, Ю. Н. Дроздов, Е. Б. Клюенков, Н. Н. Салащенко, А. И. Харитонов. Многослойные коллиматоры — монохроматоры для дифрактометров ДРОН. Поверхность. Рентгеновские, синхротронные и нейтронные исследования. 2007. №11. С. 1-4.
  101. A.А. Ахсахалян, А. Д. Ахсахалян, Е. Б. Клюенков, Н. Н. Салащенко, А. И. Харитонов, Н. И. Чхало, О. И. Бугаенко, С. В. Кузин, А. А. Перцов, С. В. Шестов. Стенд для исследования фокусирующих свойств двоякоизогнутых рентгеновских зеркал. Поверхность. Рентгеновские, синхротронные и нейтронные исследования, №7, (2007), с. 79-81.
  102. А.Д. Ахсахалян, В. А. Муравьёв, Н. Н. Салащенко. Распределение интенсивности рентгеновского излучения в плоскости изображения многослойных эллиптических зеркал. Поверхность. Рентгеновские, синхротронные и нейтронные исследования. 2007. №5. С. 1-6.
  103. А.Д. Ахсахалян, В. А. Муравьёв, Н. Н. Салащенко. Измерение формы и локального периода многослойных цилиндрических зеркал. Поверхность. Рентгеновские, синхротронные и нейтронные исследования. 2007. №10. С. 1-4.
  104. А.А. Ахсахалян, А. Д. Ахсахалян, Е. Б. Клюенков, В. А. Муравьев, Н. Н. Салащенко, А. И. Харитонов. Многослойное рентгеновское зеркало в форме эллипсоида вращения. Известия Академии наук. Серия физическая. 2007. Т. 71. №1. С. 69-72.
  105. S.I. Zheludeva, M. V. Koval’chuk, N. N. Novikova, A. D. Akhsakhalyan, Yu. Ya. Platonov, N. N. Salashchenko. Thickness and density determination of ultrathin solid films complising multilayer X-ray mirrors by x-ray reflection and fluoresence study. Rev. Sci. Instr., 1992, v. 63 (1), p.1519-1522.
  106. N.N. Salashchenko, S. V. Gaponov, A. D. Akhsakhalyan, S. S. Andreev, Yu. Ya. Platonov, N. I. Polushkin, E. A. Shamov, S. I. Shinkarev, S. Yu. Zuev. Normal incidence imaging multilayer X-ray mirrors with the periods of nanometer and subnanometer scale. Proc. SPIE, v. 2011, 1994, p.402-412.
  107. Ф.Б.Палкин, Ю. В. Пономарев, А. Б. Савельев, Н. Н. Cалащенко. Исследование ближнего атомного порядка пленок Fe методом спектроскопии тонкой структуры рентгенов- ских спектров полного внешнего отражения. ЖТФ, 1995, т.65, в. 6, с. 159-169.
  108. A.V. Andreev, Yu. V. Ponomarev, Yu. Ya. Platonov, N. N. Salashchenko. X-ray diffuse scattering in multilayer nanostructures. Proc. SPIE, 2801, 1995, 75-.
  109. В.В. Анашин, И. Е. Валыка, Н. Г. Гаврилов, Э. П. Кругляков, М. В. Федорченко, Н. И. Чхало. Сверхвысоковауумная автоматизированная установка для лазерного напыления многослойных структур. Приборы и техника эксперимента, №4, (1995), с. 177-184.
  110. V.V. Anashin, I. E. Valyka, N. G. Gavrilov, E. P. Kruglyakov, M. V. Fedorchenko, N. I. Chkhalo. A High-Vacuum Automatic Facility for Growing Multilayered Structures by Laser Ablation. Instruments and Experimental Techniques, vol. 38, №4, part 2, (1995).
  111. Е.А. Шамов, К. А. Прохоров, H. H. Салащенко. Многослойные рентгеновские зеркала малых (1.6-2.5 нм) периодов на основе Cr/Sc. Поверхность. Рентгеновские, синхротронные и нейтронные исследования. 1996, N 9, c. 60 — 63.
  112. N.N. Salashchenko, E. A. Shamov. Short — period X - ray multilayers based on Cr/Sc. Optics communication, 134, N 1-6, p.7-10 (1997).
  113. А.А. Фраерман, С. В. Митенин, Н. Н. Салащенко, Е. А. Шамов. Определение параметров короткопериодных многослойных рентгеновских зеркал. // ПОВЕРХНОСТЬ.1997, N 12, c. 57-61.
  114. S.S. Andreev, A. A. Fraerman, K. A. Prokhorov, N. N. Salashchenko, E. A. Shamov, S. A. Zuev, F. Schaefers. Short — period x-ray multilayers. SPIE Proc. 3406, 70-79 (1998).
  115. F. Schafers, H.-Ch. Mertins, I. Packe, F. Schmolla, N. N. Salashchenko, E. A. Shamov. Cr/Sc — Multilayers for the Water Window. Applied Optics, 37, 719-728 (1998).
  116. N.N. Salashchenko, A. A. Fraerman, S. V. Mitenin, K. A. Prokhorov, E. A. Shamov. Short-period X-ray multilayers based on Cr/Sc, W/Sc. NIM A 405, 292-296 (1998).
  117. Е.А. Шамов, Н. Н. Салащенко, С. Ю. Зуев, С. В. Митенин, Ф. Шаферс. Многослойные рентгеновские зеркала малых периодов на основе скандия и углерода для работы в диапазоне «водного окна». Поверхность. Рентгеновские, синхротронные и нейтронные исследования. N1, 1999, с. 155-158.
  118. С.В. Митенин, А. А. Фраерман, Н. Н. Салащенко. Определение параметров многослойных зеркал со сверхмалыми периодами и исследование их термостабильности. Поверхность. Рентгеновские, синхротронные и нейтронные исследования. N1, 1999, с. 159-161.
  119. К.А. Прохоров, С. С. Андреев, С. Ю. Зуев, Н. Н. Салащенко. Малопериодные зеркала на основе Ti для диапазона «окна прозрачности воды». Поверхность. Рентгеновские, синхротронные и нейтронные исследования. N1, 1999, с. 166-169.
  120. F. Shaefers, M. Mertin, D. Abramsohn, A. Gaupp, H.-Ch. Mertins, N. N. Salashchenko. Cr/Sc nanolayers for the water window: improved performance. Nucl. Instrum. Meth. in Phys. Res. A467-8, 349-353 (2001).
  121. S.S. Andreev, M. S. Bibishkin, N. I. Chkhalo, E. B. Kluenkov, K. A. Prokhorov, N. N. Salashchenko, M. V. Zorina, F. Schafers and L. A. Shmaenok. Short — period multilayer X - ray mirrors. Journal of Synchrotron Radiation Vol 10, Part 5, (2003) 358-360.
  122. М.С. Бибишкин., Ю. А. Вайнер, А. Е. Пестов, К. А. Прохоров, Салащенко Н. Н., А. А. Фраерман, Н. И. Чхало. Исследование характеристик многослойных зеркал с ультракороткими периодами (d= 0.7 — 2.4 нм). Известия Академии наук. Серия физическая. 2005. Т. 69. № 2, 199-206.
  123. M.S. Bibishkin, N. I. Chkhalo, A. A. Fraerman, A. E. Pestov, K. A. Prokhorov, N. N. Salashchenko, Yu. A. Vainer. Ultra-short period X-ray mirrors: Production and investigation. Nuclear Instruments and Methods in Physics Research. A. 2005. V. 543, 333-339.
  124. Ю.А. Вайнер, А. Е. Пестов, К. А. Прохоров, Н. Н. Салащенко, А. А. Фраерман, В. В. Чернов, Н. И. Чхало. Исследование поперечной корреляции шероховатостей границ в многослойных структурах с ульра-короткими периодами. ЖЭТФ, т. 130, № 3, с. 401-408, (2006).
  125. Yu.A. Vainer, A. E. Pestov, K. A. Prokhorov, N. N. Salashchenko, A. A. Fraerman, V. V. Chernov, and N. I. Chkhalo. Analysis of Cross-Correlation of Interface Roughness in Multilayer Structures with Ultrashort Periods. Journal of Experimental and Theoretical Physics. 2006. Vol.103. No. 3. Pp. 346-353.
  126. Вайнер Ю. А., Клюенков Е. Б., Пестов А. Е., Прохоров К. А., Салащенко Н. Н., Фраерман А. А, Чернов В. В., Чхало Н. И. Многослойные рентгеновские зеркала на основе W/B4C с ультракороткими (d = 0.7 — 1.5 нм) периодами. Поверхность. Рентгеновские, синхротронные и нейтронные исследования. 2007, N1, 10-16.
  127. Yu. A. Vainer, E. B. Kluenkov, A. E. Pestov, K. A. Prokhorov, N. N. Salashchenko, A. A. Fraerman, V. V. Chernov, and N. I. ChkhaloN. Multilayer X-Ray Mirrors Based on W/B4C with Ultrashort (d
  128. A.D. Akhsakhalyan, A. A. Fraerman, Yu. Ya. Platonov, N. I. Polushkin, N. N. Salaschenko. Diffusion in the multilayer structures of metal-carbon superthin films. Thin Solid Films, 207 (1992), 19-23.
  129. O. Renner, M. Kopecky, E. Krousky, F. Schafers, B. R. Muller, N. I. Chkhalo. Properties of laser-sputtered Ti/Be multilayers. Review of Scientific Instruments, vol.63, № 1, (1992), p. 1478-1481.
  130. S.I. Zheludeva, M. V. Kovalchuk, N. N. Novikova, A. N. Sosphenov, N. E. Malyshheva, N. N. Salashchenko, A. D. Akhsakhalyan, Yu. Ya. Platonov. Investiyation of heat treatment effect on Ni/C bilayer parameters by long periodic X-ray standing waves. Physica B, 198 (1994), p. 259-261.
  131. S.I. Zheludeva, M. V. Kovalchuk, N. N. Novikova, A. N. Sosphenov, N. E. Malysheva, N. N. Salashchenko, A. D. Akhsakhalyan, Yu. Ya. Platonov. X-Ray Wavegnide structures comprised of Thin Metal-Carbon Layers. J. de Physique III, 1994, pp. 1581-1587.
  132. С.И. Желудева, М. В. Ковальчук, Н. Н. Новикова, А. Н. Сосфенов, Н. Е. Малышева, Н. Н. Салащенко, Ю. Я. Платонов, А. Д. Ахсахалян. Рентгеновские волноводные моды в слоистых структурах. Кристаллография, 1995, т.40, №1, с. 145-158.
  133. S.S. Andreev, A. D. Akhsakhalyan, M. N. Drosdov, N. I. Polushkin, N. N. Salashchenko. High- resolution Auger depth profiling of multilayer structures Mo/Si, Mo/B4C, Ni/C. Thin Solid Films, v. 263,1995, p.169-174.
  134. Yu.V.Ponomarev, A. B. Palkin, A. B. Savelev, N. N. Salashchenko. ReflEXAFS spectroscopy of thin Fe/Sc multilayers. J. of X-ray sciece and technology, 1995, N4, p.379-388.
  135. М.Н.Дроздов, В. М. Данильцев, Н. Н. Салащенко, Н. И. Полушкин, О. И. Хрыкин, В. И. Шашкин. Послойный Оже-анализ сверхвысокого разрешения: проблема минимизации аппаратурных погрешностей. Письма в ЖТФ, т.21, 1995, в. 18, 1-7.
  136. S.I. Zheludeva, M. V. Kovalchuk, N. N. Novikova, A. N. Sosphenov, N. E. Malysheva, N. N. Salashchenko, A. D. Akhsakhalyan, Yu. Ya. Platonov, R. I. Cernik, S. R. Colluns. New method of ultra-thin film characterization applied to the investigation of C/Ni/C structures under heat load. Thin Solid Films, 1995, v. 529, p. 131-138.
  137. V.A. Chernov, N. I. Chkhalo, M. V. Fedorchenko, E. P. Kruglyakov, S. V. Mytnichenko, S. G. Nikitenko. Study of the Inner Structure of Co/C and Ni/C Multilayers Prepared by Pulsed Laser Evaporation Method. Journal of X-Ray Science and Technology, №5, (1995), p. 65-72.
  138. V.A. Chernov, N. I. Chkhalo, M. V. Fedorchenko, E. P. Kruglyakov, S. V. Mytnichenko, S. G. Nikitenko. Structural Changes Study of Co/C and Ni/C Multilayers upon Annealing. Journal of X-Ray Science and Technologyб, №5, (1995), р. 389-395.
  139. V.A. Chernov, N. I. Chkhalo, I. P. Dolbnya, K. V. Zolotarev. The application of the X-ray standing wave method for study Ni/C layered structures obtained by laser-assisted deposition. Nuclear Instruments and Methods in Physics Research A, №359, (1995), р. 175-177.
  140. A.V. Andreev, Yu. V. Ponomarev, Yu. Ya. Platonov, N. N. Salashchenko. Interference phenomena in X-ray scattering from multilayer nanostructures. Поверхность. Рентгеновские, синхротронные и нейтронные исследования. 1996, N3 — 4, с. 101-119.
  141. А.В. Андреев, Ю. В. Пономарев, И. Р. Прудников, Н. Н. Салащенко. Резонансное усиление диффузного рассеяния рентгеновских лучей в гетероструктуре волноводного типа. Письма в ЖЭТФ, 66, 1997, вып. 4, с. 219-223.
  142. М.Н. Дроздов, С. С. Андреев, Д. В. Мастеров, Н. Н. Салащенко, Е. А. Шамов. Послойный элементный анализ многослойных структур Мо/B4C методом электронной Оже-спектроскопии. ПОВЕРХНОСТЬ. 1997, N 11, c. 57-63.
  143. S.I. Zheludeva, M. V. Kovalchuk, N. N. Novikova, A. N. Sosphenov, N. N. Salashchenko, E. A. Shamov, K. A. Prokhorov, E. Burattini, G. Cappuccio. X-ray standing waves in x-ray specular reflection and fluorescence study of nano-films. J. Appl. Crystal. 30 (1997) p. 833-838.
  144. Н.Н. Новикова, С. И. Желудева, Е. Ю. Терещенко, Н. Н. Салащенко. Возможности характеризации многослойных структур в области полного внешнего отражения рентгеновских лучей при регистрации рентгеновского излучения. Поверхность. 1997, N 11, с. 17-23.
  145. V.A. Chernov, N. I. Chkhalo, S. G. Nikitenko. Evolution of Interface Structure in Ni-C Multilayers Depending on Annealing Temperature: Use of Embedded Co Sublayers-Markers. Journal de Physique 4. France, №7, (1997), C2-699-C2-700.
  146. A.V. Andreev, Yu. V. Ponomarev, I. R. Prudnikov, N. N. Salashchenko. X-ray diffuse scattering multilayer wevequide structures. Phys. Rev. B, 57, N20, p.13113-13117, 1998
  147. S.S. Andreev, S. V. Gaponov, N. N. Salashchenko, E. A. Shamov, L. A. Shmaenok, S. V. Bobashev, D. M. Simanovskii, E. A. Ragozin. Multilayer optics for x-ray and g — radiation. SPIE Proc. 3406, 45-69 (1998).
  148. N.I. Chkhalo, A. N. Kirpotin, E. P. Kruglyakov, E. P. Semenov. Reflectometer for precision tests of optical components in the ultrasoft X-ray range. Nuclear Instruments and Methods in Physics Research A, №405, (1998), р. 393-395.
  149. А.В. Андреев, Ю. В. Пономарев, И. Р. Прудников, Н. Н. Салащенко. Диффузное рассеяние рентгеновских лучей многослойными структурами волноводного типа. Поверхность. Рентгеновские, синхротронные и нейтронные исследования. N1, 1999, с. 42-49.
  150. С.И. Желудева, М. В. Ковальчук, Н. Н. Новикова, А. Н. Сосфенов, Н. Н. Салащенко, А. Д. Ахсахалян. Новые возможности метода стоячих рентгеновских волн для характери- зации ультратонких слоев, составляющих многослойные структуры. Поверхность. Рентгеновские, синхротронные и нейтронные исследования. N1, 1999, с. 28-36.
  151. Н.Н. Салащенко. Исследования в области многослойной рентгеновской оптики в ИФМ РАН. Поверхность. Рентгеновские, синхротронные и нейтронные исследования. N1, 1999, с. 50-60.
  152. М.С. Бибишкин, И. Г. Забродин, С. Ю. Зуев, Е. Б. Клюенков, Н. Н. Салащенко, Н. И. Чхало, Д. П. Чехонадских, Л. А. Шмаенок. Рефлектометрия в мягком рентгеновском и экстремальном ультрафиолетовом диапазонах. Поверхность. Рентгеновские, синхротронные и нейтронные исследования. 2003, № 1, с. 70-77.
  153. М.С. Бибишкин, С. Ю. Зуев, Н. Н. Салащенко, Н. И. Чхало. Определение микрошероховатости поверхностей с помощью мягкого рентгеновского излучения. Поверхность. Рентгеновские, синхротронные и нейтронные исследования. 2003, № 1, с. 94-95.
  154. Бибишкин М. С., Забродин И. Г., Клюенков Е. Б., Салащенко Н. Н., Чехонадских Д. П., Чхало Н. И. Новая разборная трубка для мягкого рентгеновского излучения. Поверхность. Рентгеновские, синхротронные и нейтронные исследования. 2003, №2, с. 41-45.
  155. Бибишкин М. С., Забродин И. Г., Пестов А. Е., Салащенко Н. Н., Чехонадских Д. П., Чхало Н. И. Характеристики детекторов на основе МКП и каналовых умножителей при работе в счетном режиме. Поверхность. Рентгеновские, синхротронные и нейтронные исследования. 2003, №7, с. 5-8.
  156. М.С. Бибишкин, И. Г. Забродин, С. Ю. Зуев, Е. Б. Клюенков, А. Е. Пестов, Н. Н. Салащенко, Д. П. Чехонадских, Н. И. Чхало. Рефлектометр с модернизированной оптической схемой для исследования элементов рентгенооптики в диапазоне 0,6-20 нм. Поверхность. Рентгеновские, синхротронные и нейтронные исследования, №2, с. 23-27, (2005).
  157. Барышева М. М., Сатанин А. М, Чхало Н. И. Поляризационные и фазовращательные свойства многослойных рентгеновских зеркал с флуктуирующими параметрами. Численный анализ. Поверхность. Рентгеновские, синхротронные и нейтронные исследования. №2. 2006. С. 96-100.
  158. А.Е. Пестов, Н. Н. Салащенко, Н. И. Чхало. Моделирование интенсивности излучения рентгеновских трубок в мягком рентгеновском и экстремальном ультрафиолетовом диапазоне. Известия академии наук. Серия физическая. 2008, т. 72, №2, 218-220.
  159. A.E. Pestov, N. N. Salashchenko, and N. I. Chkhalo. Simulation of the Intensity of X-ray Tube Radiation in Soft X-ray and Extreme UV Regions. Bulletin of the Russian Academy of Sciences: Physics. Vol. 72. No. 2. 2008. P. 201-203.
  160. Л.И. Горай, Н. И. Чхало, Г. Э. Цырлин. Определение углов наклона и высот граней квантовых точек из анализа диффузного и зеркального рентгеновского рассеяния. Журнал технической физики. Том 79. №4. 2009. С. 117-124.

© 2000—2018, ИФМ РАН.
E-mail: director@ipmras.ru

Фактический адрес: ул. Академическая, д. 7, д. Афонино, Нижегородская обл., Кстовский район, 603087, Россия
Схема проезда, Документ WordТелефоны сотрудников (240 Kбайт)

Tелефон: (831) 417–94–73,
Факс: (831) 417–94–64,
Адрес для писем: ГСП-105, Нижний Новгород, 603950, Россия