РусскийEnglish
ИФМ РАН / Структура / Сотрудники / Юнин Павел Андреевич

Юнин Павел Андреевич

Младший научный сотрудник отдела технологии наноструктур и приборов.

Персональные данные

Родился 16 мая 1989 г. в Горьком. Женат.

Научные интересы

Рентгеновская дифрактометрия полупроводниковых гетероструктур; рентгеновский фазовый анализ поликристаллов; послойный ВИМС анализ; методы анализа и обработки данных рентгеновской дифрактометрии и масс-спектрометрии вторичных ионов; исследование сегрегации и диффузии в полупроводниковых структурах.

Образование

Школа

Гимназия № 2 г. Нижнего Новгорода.

ВУЗ

Физический факультет ННГУ.

Профессиональная карьера

  • 2010 — 2012 — инженер-исследователь ИФМ РАН;
  • 2012 — н. вр. — младший научный сотрудник ИФМ РАН.

Избранные публикации

  • Новый подход к рентгенодифракционному анализу тестовых структур при калибровке потоков в реакторах эпитаксиального роста / Юнин П. А., Дроздов Ю. Н., Новиков А. В., Юрасов Д. В., Поверхность. РСНИ 6, 36−39 (2012);
  • Послойный анализ структур с дельта-слоями методом ВИМС с учетом функции разрешения по глубине TOF. SIMS-5 / Юнин П. А., Дроздов Ю. Н., Дроздов М. Н., Новиков А. В., Юрасов Д. В., Поверхность. РСНИ 7, 26−30 (2012);
  • Анализ состава твердых растворов (Al, Ga) As методами вторично-ионной масс-спектрометрии и рентгеновской дифрактометрии / Дроздов Ю. Н., Дроздов М. Н., Данильцев В. М., Хрыкин О. И., Юнин П. А., ФТП 46 (11), 1419−1423 (2012);
  • Способ учета параметра сдвига при восстановлении распределения состава полупроводниковых структур по глубине в методе масс-спектрометрии вторичных ионов / П. А. Юнин, Ю. Н. Дроздов, М. Н. Дроздов, А. В. Новиков, Д. В. Юрасов, ФТП 46 (12), 1515−1520 (2012);
  • Sputter depth profiling of Mo/B4C/Si and Mo/Si multilayer nanostructures: A round-robin characterization by different techniques / B. Ber, P. Babor, P. N. Brunkov, P. Chapon, M. N. Drozdov, R. Duda, D. Kazantsev, V. N. Polkovnikov, P. Yunin, A. Tolstogouzov, Thin Solid Films 540, 96−105 (2013);
  • Experimental shift allowance in the deconvolution of SIMS depth profiles / Yunin P. A., Drozdov Yu. N, Drozdov M. N., Surf. Interface Anal. 45, 1228−1232 (2013);
  • Изменения элементного состава и микроструктуры мишени YBa2Cu3O7-delta при магнетронном распылении / Д. В. Мастеров, М. Н. Дроздов, Ю. Н. Дроздов, С. А. Павлов, А. Е. Парафин, П. А. Юнин, Письма в ЖТФ 39 (19), 41−50 (2013);
  • Исследование многослойных полупроводниковых SiGe структур методами рентгеновской дифрактометрии, малоугловой рефлектометрии и масс-спектрометрии вторичных ионов / Юнин П. А., Дроздов Ю. Н., Дроздов М. Н., Королев С. А., Лобанов Д. Н., ФТП 47 (12), 1580−1585 (2013);
  • Послойный молекулярный анализ фуллерен-содержащих структур методом время-пролетной вторично-ионной масс-спектрометрии / М. Н. Дроздов, Ю. Н. Дроздов, Г. Л. Пахомов, В. В. Травкин, П. А. Юнин, В. Ф. Разумов «", Письма в ЖТФ 39 (24), 45−54 (2013);
  • Monocrystalline InN Films Growth at High Rate by Organometallic Vapor Phase Epitaxy with Nitrogen Plasma Activation Supported by Gyrotron Radiation / A. Vodopyanov, Yu. Buzynin, D. Mansfeld, O. Khrykin, Yu. Drozdov, P. Yunin, A. Lukyanov, M. Viktorov, S. Golubev, and V. Shashkin, Jpn. J. Appl. Phys. 52, 110201 (2013);

Контактная информация

Тел.: (831) 417−94−91 +238

E-mail: yunin@ipmras.ru

© 2000—2018, ИФМ РАН.
E-mail: director@ipmras.ru

Фактический адрес: ул. Академическая, д. 7, д. Афонино, Нижегородская обл., Кстовский район, 603087, Россия
Схема проезда, Документ WordТелефоны сотрудников (240 Kбайт)

Tелефон: (831) 417–94–73,
Факс: (831) 417–94–64,
Адрес для писем: ГСП-105, Нижний Новгород, 603950, Россия