РусскийEnglish
ИФМ РАН / Структура / Сотрудники / Татарский Дмитрий Аркадьевич

Татарский Дмитрий Аркадьевич

Младший научный сотрудник отдела магнитных наноструктур.

Персональные данные

Родился 17 сентября 1988 г. в Горьком. Холост.

Научные интересы

Магнитное рассеяние частиц, микромагнетизм тонких пленок, просвечивающая электронная микроскопия высокого разрешения.

Образование

  • 09.2005 — 06.2011 гг. Нижегородский государственный университет им. Н. И. Лобачевского, диплом с отличием магистра физики по специальности 01.04.07

  • 07.2011 — 06.2014 гг. Аспирантура Института физики микроструктур Российской академии наук

Профессиональная карьера

  • 01.2008 — 12.2008 — лаборант кафедры теоретической физики ННГУ им. Н.И. Лобачевского
  • 10.2008 — 06.2011 — инженер-исследователь ИФМ РАН
  • 01.2014 — 12.2014 — м.н.с. ННГУ им. Н.И. Лобачевского
  • 07.2011 — н.вр. — м.н.с. ИФМ РАН
  • 2017 — н. вр. — ассистент кафедры теоретической физики физического факультета ННГУ

Публикации

  • Интерференционное усиление магнитооптического эффекта Керра в многослойных структурах в рентгеновском диапазоне длин волн / Д. А. Татарский, А. А. Фраерман, Поверхность. Рентгеновские, синхротронные и нейтронные исследования, № 7, 10 (2012)
  • О влиянии микрокристаллической структуры на магнитные свойства ферромагнитных пленок и структур на их основе / С. А. Гусев, Д. А. Татарский, А. Ю. Климов, В. В. Рогов, Е. В. Скороходов, М. В. Сапожников, Б. А. Грибков, И. М. Нефедов, А. А. Фраерман, Физика твердого тела 55, 435 (2013)
  • Особенности движения частиц со спином ½ в некомпланарном магнитном поле / Д. А. Татарский, А. В. Петренко, С. Н. Вдовичев, О. Г. Удалов, Ю. В. Никитенко, А. А. Фраерман, Успехи физических наук 186, 654 (2016)
  • Copper (II)-cerium (III) 15-metallacrown-5 based on glycinehydroxamic acid as a new precursor for heterobimetallic composite materials on carbon nanotubes / K.V. Kremlev, M.A. Samsonov, G.S. Zabrodina, A.V. Arapova, P.A. Yunin, D.A. Tatarskiy, P.E. Plyusnin, M.A. Katkova, S.Yu. Ketkov, Polyhedron 114, 96 (2016).
  • High-reflection Mo/Be/Si multilayers for EUV lithography / N.I. Chkhalo, S.A. Gusev, A.N. Nechay, D.E. Pariev, V.N. Polkovnikov, N.N. Salashchenko, F. Schäfers, M.G. Sertsu, A. Sokolov, M.V. Svechnikov, D.A. Tatarsky, Optics Letters 42, 5070 (2017)

Контактная информация

Тел.: (831) 417−94−89, +122, +142, +534

E-mail: tatarsky@ipmras.ru

© 2000—2018, ИФМ РАН.
E-mail: director@ipmras.ru

Фактический адрес: ул. Академическая, д. 7, д. Афонино, Нижегородская обл., Кстовский район, 603087, Россия
Схема проезда, Документ WordТелефоны сотрудников (240 Kбайт)

Tелефон: (831) 417–94–73,
Факс: (831) 417–94–64,
Адрес для писем: ГСП-105, Нижний Новгород, 603950, Россия