Салащенко Николай Николаевич

Заведующий отделом ИФМ РАН, главный научный сотрудник, доктор физико-математических наук, член-корреспондент РАН.

Персональные данные

Родился 1 ноября 1941 года в г. Уссурийск Приморского края.

Научные интересы

Физика и технология многослойной «рентгеновской оптики»; применение многослойной оптики в физических экспериментах и научном приборостроении.

Сфера научной деятельности включает оптимизацию многослойных структур для рентгеновской оптики и развитие методов их диагностики; изучение физических процессов в многослойных структурах на основе сверхтонких металлических слоев; развитие технологии изготовления элементов рентгенооптики; разработку стендов для диагностики МСС, для контроля и коррекции формы поверхности рентгенооптических элементов с субнанометровой точностью, проекционной рентгеновской нанолитографии и рентгеновской микроскопии.

Награды

• Лауреат Государственной премии СССР (1991 г.),
• Лауреат премии им. А. Г. Столетова РАН (2008 г.).

Другие сведения

Член Ученого совета ИФМ РАН, член специализированных Советов по защите диссертаций ИФМ РАН и ННГУ (физический факультет), член редколлегии журнала Поверхность. Рентгеновские, синхротронные и нейтронные исследования. Является одним из руководителей Научной Школы «Создание физических основ нанесения метастабильных многослойных и нанокластерных пленочных структур, исследование их свойств»

Некоторые публикации

• S.S. Andreev, A. D. Akhsakhalyan, M. A. Bibishkin, N. I. Chkhalo, S. V. Gaponov, S. A. Gusev, E. B. Kluenkov, K. A. Prokhorov, N. N. Salashchenko, F. Schäfers, S. Yu. Zuev. Multilayer optics for XUV spectral region: technology fabrication and applications. Centr. Europ. Journ. of Phys. 2003. 1, p.191-209.
• H. Kimura, T. Hirono, Y. Tamenori, Y. Saitoh, N. N. Salashchenko, and T. Ishikawa. Transmission type Sc/Cr multilayers as a quarter-wave plate for 398.6eV. // J. Electr. Spectr. 144-147 (2005) 1079.
• Ю.А. Вайнер, А. Е. Пестов, К. А. Прохоров, Н. Н. Салащенко, А. А. Фраерман, В. В. Чернов, Н. И. Чхало. Исследование поперечной корреляции шероховатостей границ в многослойных структурах с ульра-короткими периодами. // ЖЭТФ, т… 130, № 3, с. 401-408, (2006).
• Е.Б. Клюенков, А. Е. Пестов, В. Н. Полковников, Д. Г. Раскин, М. Н. Торопов, Н. Н. Салащенко, Н. И. Чхало. Измерение и коррекция формы оптических элементов с субнанометровой точностью. Российские нанотехнологии, т. 3, № 9 -10, 90-98 (2008).
• Ю.Э. Бороздин, Е. Д. Казаков, В. И. Лучин, Н. Н. Салащенко, И. Ю. Толстихина, В. В. Чернов, Н. И. Чхало, А. П. Шевелько, О. Ф. Якушев. Рентгеновская и ВУФ спектроскопия плазмы с использованием новых фокусирующих многослойных структур. // Письма в ЖЭТФ, 87, в. 1, 33-35 (2008).

Контактная информация

т. (831) 460-76-92 +124
salashch@ipm.sci-nnov.ru