РусскийEnglish
ИФМ РАН / Структура / Сотрудники / Плешков Роман Сергеевич

Плешков Роман Сергеевич

Младший научный сотрудник лаборатории основ наноэлектронной компонентной базы информационных технологий (181)

Персональные данные

Родился 22 ноября 1992 г. в с. Салган (Нижегородская область)

Научные интересы

Рентгеновская оптика; Физика поверхности и тонких пленок; Оптическая интерферометрия: Источники рентгеновского излучения: Проекционная литография

Образование

  • 2011 — закончил школу № 47 города Нижнего Новгорода
  • 2011−2017 — студент физического факультета Нижегородского госуниверситета им. Н. И. Лобачевского (ННГУ)
  • 2015 — закончил бакалавриат ННГУ по направлению подготовки «Электроника и наноэлектроника»
  • 2017 — закончил магистратуру ННГУ по направлению подготовки «Электроника и наноэлектроника»
  • 2018 — аспирантура ИФМ РАН

Избранные публикации

  1. Stable high-reflection Be/Mg multilayer mirrors for solar astronomy at 30.4 nm / Vladimir N. Polkovnikov, Nikolai I. Chkhalo, Roman S. Pleshkov, Nikolai N. Salashchenko, Franz Schäfers, Mewael G. Sertsu, Andrey Sokolov, Mikhail V. Svechnikov, and Sergei Yu. Zuev // Optics Letters. — 2019. — V.44. Iss.2. — Р. 263−266 (2019)
  2. Многослойные зеркала Mo/Si с барьерными слоями B4C и Be / С. Ю. Зуев, Д. Е. Парьев, Р. С. Плешков, В. Н. Полковников, Н. Н. Салащенко, М. В. Свечников, М. Г. Сертсу, А. Соколов, Н. И. Чхало, Ф. Шаферс // Поверхность. Рентгеновские, синхротронные и нейтронные исследования. — 2019. — № 3. — С. 5−9 (2019)
  3. Апериодические зеркала на основе бериллиевых многослойных систем / С. А. Гарахин, С. Ю. Зуев, Р. С. Плешков, В. Н. Полковников, Н. Н. Салащенко, Н. И. Чхало // Поверхность. Рентгеновские, синхротронные и нейтронные исследования, № 4. — С. 3−8 (2019)
  4. Комплект многослойных рентгеновских зеркал для двухзеркального монохроматора в диапазоне длин волн 0.41 -15.5 нм / А. А. Ахсахалян, Ю. А. Вайнер, С. А. Гарахин, К. А. Елина, П. С. Заверткин, С. Ю. Зуев, Д. В. Ивлюшкин, А. Н. Нечай, А. Д. Николенко, Д. Е. Парьев, Р. С. Плешков, В. Н, Полковников, Н. Н. Салащенко, М. В. Свечников, Н. И. Чхало // Поверхность. Рентгеновские, синхротронные и нейтронные исследования, № 1. — С. 14−21 (2019)

Контактная информация

Тел.: (831) 417−94−85 +127
E-mail: pleshkov@ipmras.ru

© 2000—2019, ИФМ РАН.
E-mail: director@ipmras.ru

Фактический адрес: ул. Академическая, д. 7, д. Афонино, Нижегородская обл., Кстовский район, 603087, Россия
Схема проезда, Документ WordТелефоны сотрудников (240 Kбайт)

Tелефон: (831) 417–94–73,
Факс: (831) 417–94–64,
Адрес для писем: ГСП-105, Нижний Новгород, 603950, Россия