РусскийEnglish
ИФМ РАН / Структура / Сотрудники / Пестов Алексей Евгеньевич

Пестов Алексей Евгеньевич

Научный сотрудник отдела многослойной рентгеновской оптики (отд. 130), к. ф.-м. н.

Персональные данные

Родился 26.04.1980 г., г. Горький, женат
кандидат физ.-мат. наук

Научные интересы

Многослойная рентгеновская оптика, литография экстремального ультрафиолетового диапазона, ионное травление.

Образование

  • 1986 — 1990 — школа №35
  • 1990 — 1995 — школа №29
  • 1995 — 1997 — школа-лицей №40
  • 1997 — 2003 — Радиофизический факультет Нижегородского государственного университета им. Н. И. Лобачевского;
  • 1999 — 2004 — Экономический факультет Нижегородского государственного университета им. Н. И. Лобачевского;
  • 2006 — кандидатская диссертация «Развитие диагностических методов для задач проекционной литографии 13,5 нм», научные руководители — член-корр. РАН, д. ф.-м. н. Н. Н. Салащенко, к. ф.-м. н. Н. И. Чхал;

Профессиональная карьера

  • 2000 — 2003 — старший лаборант-исследователь Института физики микроструктур РАН;
  • 2003 — 2006 — аспирант Института физики микроструктур РАН;
  • 2003 — 2007 — младший научный сотрудник Института физики микроструктур РАН;
  • 2007 — н/вр — научный сотрудник Института физики микроструктур РАН;

Педагогическая деятельность и научное руководство курсовыми и дипломными работами

  • 2007 — н/вр — проведение учебно-научного эксперимента «Многослойная рентгеновская оптика мягкого диапазона» для студентов 3 курса базовой кафедры «Физика наноструктур и наноэлектроника».
  • 2009 — Храмков Роман Александрович. Бакалаврская дипломная работа (4 курс) «Применение метода ионно-пучкового травления для коррекции формы оптических поверхностей с субнанометровой точностью»

Избранные публикации последних 5-ти лет

  • Bibishkin, M. S. Laboratory methods for investigations of multilayer mirrors in Extreme Ultraviolet and Soft X-Ray region / M. S. Bibishkin, D. P. Chehonadskih, N. I. Chkhalo, E. B. Kluyenkov, A. E. Pestov, N. N. Salashchenko, L. A. Shmaenok, I. G. Zabrodin, S. Yu. Zuev // Proceedings SPIE. — 2004. — v. 5401. — p.8-15.
  • Бибишкин, М. С. Двухзеркальный рефлектометр для относительных измерений коэффициентов отражения многослойных зеркал на длине волны 13.5 нм / М. С. Бибишкин, И. Г. Забродин, И. А. Каськов, Е. Б. Клюенков, А. Е. Пестов, Н. Н. Салащенко, Д. П. Чехонадских, Н. И. Чхало, Л. А. Шмаенок // Известия академии наук. Серия физическая. — 2004. — т.68. — № 4. — с. 560-564.
  • Andreev, S. S. Application of free-standing multilayer films as polarizers for X-ray radiation / S. S. Andreev, M. S. Bibishkin, N. I. Chkhalo, A. Ya. Lopatin, V. I. Luchin, A. E. Pestov, K. A. Prokhorov, N. N. Salashchenko // Nuclear Instruments and Methods in Physics Research A. — 2005. — v. 543. — p.340-345.
  • Bibishkin, M. S. Ultra-short period X-ray mirrors: Production and investigation / M. S. Bibishkin, N. I. Chkhalo, A. A. Fraerman, A. E. Pestov, K. A. Prokhorov, N. N. Salashchenko, Yu. A. Vainer // Nuclear Instruments and Methods in Physics Research A. — 2005. — v. 543. — p.333-339.
  • Ю. А. Вайнер Исследование поперечной корреляции шероховатостей границ в многослойных структурах с ульра-короткими периодами. // Вайнер Ю. А., Пестов А. Е., Прохоров К. А., Салащенко Н. Н., Фраерман А. А., Чернов В. В., Чхало Н. И. // Журнал экспериментальной и теоретической физики. — 2006. — Т.130. — №.3. — С.401-408.
  • Клюенков, Е. Б. Измерение и коррекция формы оптических элементов с субнанометровой точностью / Е. Б. Клюенков, А. Е. Пестов, В. Н. Полковников, Д. Г. Раскин, М. Н. Торопов, Н. Н. Салащенко, Н. И. Чхало // Российские нанотехнологии. — 2008. — Т.3.№9-10. — С.90-98.

Контактная информация

aepestov@ipm.sci-nnov.ru

© 2000—2018, ИФМ РАН.
E-mail: director@ipmras.ru

Фактический адрес: ул. Академическая, д. 7, д. Афонино, Нижегородская обл., Кстовский район, 603087, Россия
Схема проезда, Документ WordТелефоны сотрудников (240 Kбайт)

Tелефон: (831) 417–94–73,
Факс: (831) 417–94–64,
Адрес для писем: ГСП-105, Нижний Новгород, 603950, Россия