РусскийEnglish
ИФМ РАН / Структура / Сотрудники / Орлов Михаил Львович

Орлов Михаил Львович

Младший научный сотрудник отдела физики полупроводников, к. ф.-м. н.

Персональные данные

Родился 5 ноября 1981 г. в Горьком. Холост.

Научные интересы

Полупроводники, низкоразмерные гетероструктуры, низкотемпературные измерения.

Образование

Школа

Лицей №40 г. Нижнего Новгорода.

ВУЗ

Радиофизический факультет ННГУ им. Н. И. Лобачевского.

Профессиональная карьера

  • 2003-2004 — старший лаборант-исследователь ИФМ РАН;
  • 2004-н. в. — младший научный сотрудник ИФМ РАН.

Избранные публикации

Multilayer strained Si-SiGe structures: fabrication problems, interface characteristics and physical properties / L. K.Orlov, Z. J.Horvath, N. L.Ivina, V. I.Vdovin, E. A.Steinman, M. L.Orlov, Yu. A.Romanov, Opto-Electronics Review 11 (2), 85 (2003);

Anisotropy of the conductivity and high-frequency characteristics of two-dimensional quantum superlattices in a strong electric field / M. L.Orlov, Yu. A.Romanov, L. K.Orlov, Microelectronics Journal 36 (3-6) 396 (2005);

Room temperature tunable detection of subterahertz radiation in nanometer InGaAs transistor / F. Teppe, M. Orlov, A. El Fatimy, A. Tiberj, W. Knap, J. Torres, V. Gavrilenko, A. Shchepetov, Y. Roelens, S. Bollaert, Appl. Phys.Lett. 89, 222109 (2006);

Plasma wave resonant detection of terahertz radiations by nanometric transistors / W. Knap, A. El Fatimy, J. Torres, F. Teppe, M. Orlov, V. Gavrilenko, Low Temperature Physics 33 (2), 291 (2007);

Anomalous Electrical Properties of Si/Si1-xGex Heterostructures with an Electron Transport Channel in Si Layers / L. K. Orlov, Z. J. Horvath, M. L. Orlov, A. T. Lonchakov, N. L. Ivina, and L. Dobos, Physics of Solid State 50 (2), 330 (2008);

High-frequency signal rectification by using a field-effect heterotransistor with a short channel / M. L. Orlov, Semiconductors 42 (3), 339 (2008);

Current-Voltage Characteristics and Terahertz Emission Peculiarities of an In0.53Ga0.47As/In0.52Al0.48As HEMT with 2D Electron Gas / M. L. Orlov, Bulletin of the Russian Academy of Sciences: Physics 73 (1), 107 (2009);

Mechanisms of Negative Resistivity and Generation of Terahertz Radiation in A Short-Channel In0.53Ga0.47As/In0.52Al0.48As Transistor / M. L. Orlov and L. K. Orlov, Semiconductors 43 (5), 652 (2009);

Ways and Peculiarities of Submillimeter Wavelength Detection with Short Channel Field Effect Transistors / M. L. Orlov, A. N. Panin, and L. K. Orlov, Semicoductors 43 (6), 787 (2009);

Mechanisms of a negative differential conductivity in a shortchannel In0.52Ga0.48As/In0.53Al0.47As HEMT / M. L Orlov, Journal of Physics: Conference Series 193, 012020 (2009);

Detection mechanisms of terahertz radiation in a short gate In0.7Ga0.3As/In0.53Al0.47As field effect transistor / M. L Orlov and L. K Orlov, Journal of Physics: Conference Series 193, 012080 (2009);

Контактная информация

Тел.: (831) 417-94-79

E-mail: orlovm@ipmras.ru

© 2000—2018, ИФМ РАН.
E-mail: director@ipmras.ru

Фактический адрес: ул. Академическая, д. 7, д. Афонино, Нижегородская обл., Кстовский район, 603087, Россия
Схема проезда, Документ WordТелефоны сотрудников (240 Kбайт)

Tелефон: (831) 417–94–73,
Факс: (831) 417–94–64,
Адрес для писем: ГСП-105, Нижний Новгород, 603950, Россия